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1

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)

Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

Año:

2006

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 6.82 MB

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english, 2006

2

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud (auth.), Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen (eds.)

Año:

2010

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 4.52 MB

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english, 2010

3

Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

Laung-Terng Wang && Yao-Wen Chang && Kwang-Ting (Tim) Cheng

Año:

2009

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 19.42 MB

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english, 2009

4

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Morgan Kaufmann

Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

Año:

2006

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 5.66 MB

5.0 / 5.0

english, 2006

5

Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)

Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)

Morgan Kaufmann

Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng

Año:

2009

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 20.78 MB

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english, 2009

6

System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)

System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)

Morgan Kaufmann

Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba

Año:

2007

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 9.94 MB

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english, 2007

7

System-on-Chip Test Architectures. Nanometer Design for Testability

System-on-Chip Test Architectures. Nanometer Design for Testability

Morgan Kaufmann

Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud and Nur A. Touba (Eds.)

Año:

2008

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 21.85 MB

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english, 2008

8

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Morgan Kaufmann

Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

Año:

2006

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 22.99 MB

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english, 2006

9

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud (auth.), Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen (eds.)

Año:

2010

Idioma:

english

Archivo:

PDF, 13.62 MB

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english, 2010